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作者：網(wǎng)站管理員 發(fā)布時(shí)間：2024-09-07 瀏覽次數(shù)：
注：在重負(fù)載下連續(xù)使用（例如施加高溫/電流/電壓和溫度的顯著變化等）可能會(huì)導(dǎo)致本產(chǎn)品的可靠性顯著下降，即使使用條件（即工作溫度/電流/電壓等）在絕對(duì)最大額定值范圍內(nèi)。請(qǐng)?jiān)诓榭礀|芝半導(dǎo)體可靠性手冊(cè)（“處理注意事項(xiàng)”/“降額概念和方法”）和各個(gè)可靠性數(shù)據(jù)（即可靠性測(cè)試報(bào)告和估計(jì)故障率等）后設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)目煽啃?。?1：使用過(guò)程中通道溫度不應(yīng)超過(guò) 150°C。注 2：PW ≤ 1ms，占空比 ≤ 1% 注 3：安裝在 FR4 板上。（25.4 mm × 25.4 mm × 1.6 mm，銅墊：645 mm2）
注 4：脈沖測(cè)試 注 5：如果在柵極和源之間施加正向偏置，則該器件將進(jìn)入 V（BR）DSX 模式。請(qǐng)注意，在此模式下，漏源擊穿電壓會(huì)降低。
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